Συνελήφθησαν δύο Έλληνες δημοσιογράφοι στη Ν. Υόρκη – Κατηγορούνται για πλαστογραφία

22:32 18/9/2016 - Πηγή: Aixmi

Δίωξη για πλαστογραφία αναμένεται να ασκηθεί εναντίον δύο Ελλήνων δημοσιογράφων που συνελήφθησαν στη Νέα Υόρκη καθώς παρακολουθούσαν μεταμφιεσμένοι τον υπουργό Επικρατείας Νίκο Παππά. Οι δύο δημοσιογράφοι του Star και του Alpha, οι οποίοι έφτασαν στο σημείο να πλαστογραφήσουν την υπογραφή συνεργάτη του κ. Παππά, ο οποίος πραγματοποιεί επίσημη επίσκεψη στις ΗΠΑ,

στο ξενοδοχείο Westin New York Grand Central και να χρεώσουν μικρογεύμα στο δωμάτιό του.

Επίσης, δήλωσαν ψευδώς στις αστυνομικές Αρχές ότι είναι μέλη της αποστολής του Έλληνα πρωθυπουργού που αναμένεται στη Νέα Υόρκη.

Κίνησαν υποψίες όταν εντοπίστηκαν να παρακολουθούν και να φωτογραφίζουν τα μέλη της ασφάλειας του πρωθυπουργού που είχαν φτάσει νωρίτερα. Και οι δύο αφέθηκαν προσωρινά ελεύθεροι. Τα μέτρα ασφαλείας στην πόλη του Μεγάλου Μήλου είναι αυξημένα καθώς από αύριο αναμένονται ηγέτες από όλο τον κόσμο προκειμένου να λάβουν μέρος στην ετήσια Γενική Συνέλευση του ΟΗΕ.

Keywords
Τυχαία Θέματα